產(chǎn)品簡介:
自動化控制和光學設(shè)備在定位、校正、檢測、光路對準中都要用到精密移動與控制。微位移測試儀是能夠?qū)崿F(xiàn)精密位移的微位移測控設(shè)備，**針對各企業(yè)眾多產(chǎn)品的對準、調(diào)節(jié)、位移和封裝等，以產(chǎn)品的不同而配對的精密平臺可作X軸、Y軸、Z軸、R軸、S軸手動/自動調(diào)整，微分頭精密移動調(diào)整。實現(xiàn)精密移動，重復定位精度高、性能穩(wěn)定、重復性好、配套組合功能齊，并且模塊式結(jié)構(gòu)組合拆卸方便，并提供系列化組合平臺用于固定裝置的卡具和托架。可以在搖擺臺小角度搖擺情況下距離幾米外*接觸測量，對被測對象額外增加的（用于測試所需的）負載體積小、重量輕。
測試功能：
 1、在被測對象同時存在平動及轉(zhuǎn)動的情況下實現(xiàn)對被測對象方位及俯仰兩軸轉(zhuǎn)動的同時測試，測量時對被測對象*接觸；
 2、被測對象運動測量的角分辨率：2＂，精度10＂；
 3、測量范圍(被測對象方位及俯仰方向轉(zhuǎn)角范圍) ：±2.25 °；
 4、測量頻率（幀頻）：不低于1000Hz， 在1000Hz幀頻滿幅情況下持續(xù)測試時間不少于4s。
微位移測試儀 型號：HXW-II